P Typ M6 Monokryštalická solárna doštička

P Typ M6 Monokryštalická solárna doštička
Predstavenie výrobku:
Monokryštalická silikónová solárna doštička P typu M6 s priemerom 223 mm je o 12,21 % väčšia ako doštička M2.
Zaslať požiadavku
Chat teraz
Popis
Technické parametre


M6 solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Čiernobiela silikónová solárna doštička P typu M6 s dĺžkou 166 mm a priemerom 223 mm je o 12,21 % väčšia ako oblátka M2. to znamená, že solárne články vyrobené zo substrátu M6 budú mať o 12,21 % vyšší výkon ako solárne články vyrobené zo substrátu M2.


1      Vlastnosti materiálu

 

majetok

špecifikácia

Inšpekčná metóda

Metóda rastu

Cz


Kryštalita

Monokryštalický

 

Preferenčné techniky leptaniaASTM F47-88

Typ vodivosti

Typ P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant (Dopant)

 

Bór, Gálium

 

-

Koncentrácia kyslíka[Oi]

≦8 v roku 2016E + 17 vo/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koncentrácia uhlíka[Cs]

5E+16 v/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Hustota leptania jamy (hustota dislokácie)

500 cm-3

Preferenčné techniky leptaniaASTM F47-88

Orientácia povrchu

<100>±3°

Difrakčná metóda röntgenového žiarenia (ASTM F26-1987)

Orientácia pseudo štvorcových strán

<010>,<001>±3°

Difrakčná metóda röntgenového žiarenia (ASTM F26-1987)

 

2      Elektrické vlastnosti

 

majetok

špecifikácia

Inšpekčná metóda

Odpor

0,5-1,5 Ωcm

Systém kontroly doštičiek

MCLT (životnosť menšinového dopravcu)

50 μs

Sinton BCT-400

(s úrovňou injekcie: 1E15 centimeter-3)

 

3      geometria

 

majetok

špecifikácia

Inšpekčná metóda

geometria

Plný štvorec


Dĺžka bočnej oblátky

166±0,25 mm

systém kontroly doštičiek

Priemer doštičky

φ223±0,25 mm

systém kontroly doštičiek

Uhol medzi susednými stranami

90° ± 0,2°

systém kontroly doštičiek

hrúbka

18020/10 μm;

17020/10 μm

systém kontroly doštičiek

TTV (celková odchýlka hrúbky)

27 μm

systém kontroly doštičiek


 166mmx166mm M6 solar wafer

 

 

4      Vlastnosti zariadenia Surface

 

majetok

špecifikácia

Inšpekčná metóda

Spôsob rezania

Dw

--

Kvalita povrchu

ako rezané a vyčistené, nie je viditeľná kontaminácia (olej alebo tuk, odtlačky prstov, mydlové škvrny, škvrny od kalu, epoxidové/lepiace škvrny nie sú povolené)

systém kontroly doštičiek

Značky píly / schody

≤ 15 μm

systém kontroly doštičiek

luk

≤ 40 μm

systém kontroly doštičiek

osnova

≤ 40 μm

systém kontroly doštičiek

úlomok

hĺbka ≤0,3 mm a dĺžka ≤ 0,5 mm Max 2/ks;   žiadny V-čip

Systém kontroly voľných očí alebo doštičiek

Mikro praskliny / otvory

Nepou dovolené

systém kontroly doštičiek




 

Populárne Tagy: p typ m6 monokryštalická solárna doštička, Čína, dodávatelia, výrobcovia, továreň, vyrobené v Číne

Zaslať požiadavku
Ako vyriešiť problémy s kvalitou po predaji?
Odfoťte problémy a pošlite nám ich. Po potvrdení problémov my
do niekoľkých dní vám vyrobí uspokojivé riešenie.
kontaktujte nás